TA的每日心情 | 擦汗 2026-3-17 22:01 |
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签到天数: 1133 天 [LV.10]大乘
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* L( N. r4 j4 p' G3 I$ A2 M' H( ^我看那个路线图做不到三层吧,应该要到28年以后1 X9 A4 p" N2 t% h2 Q
9 {; ~/ v# g( J; `1 ~8 E; M关于夏晶的发言,还有这么一段,我当初看到的时候给记下来了,后来再找发现这哥们应该是给删了,我贴在这里,反正爱坛小众,不太应该会有人追杀到这里
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8 @1 |; [: }# Q1 x9 N# r$ B作者:Dio-晶
3 p$ F3 V3 |0 a5 b# {+ w给韬一点自信
7 K- q; G* M) E* R$ d黑子蛮多,评价所谓韬不就是堆叠、3D集成、先进封装什么的,并引用台积电、AMD的材料为参照,是业界通用能力,叠加EUV还能更强 :)' B8 j; o" P4 N& T- a' `) W
那为啥不做呢? 你想过没有?
, m* X+ u: Z* E1 S5 ^为何世人知其路,而罕至其深处?
1 r8 v7 G# o, C诚然AMD也有MIXXX系列的3D结构,BroadCom也有相应3.5D什么的路标。) r$ C- v1 I& i, G' ?4 r5 l
学术界论文更是汗牛充栋,工业届为啥没有再进几步,更深入折叠一下? 7 \9 I# N9 |" v) U
其实这真的是一个岔路口!!!!!' O. R* Z9 o( D9 I* n% Q& K3 _* `
讲几个简单的逻辑,原本我是准备在会上回答的,奈何没人问,sign。) ]% n4 N$ m3 q( S- R$ }0 x( z" b
1、TSV,也就是所谓打孔(其实还包括一些其他3D特征的对象和rule),它们其实是一种Device,在加工上和一个FET管子是同等级别的特征的。但是,功能上的管子,例如NAND2,是工艺原生之子,而TSV是工艺后生之客。9 F, I [% W: T" k. Y
啥意思呢? 就是你定义一个2nm的工艺的时候,在第一天是不会考虑TSV这种器件的,因为它只会让你的刀变慢 :) . B7 M$ k% f2 S8 a* C$ L8 F
几乎所有的TSV设计,都是在工艺成熟之后再叠加的。也就是工艺研发需要二次入场,这种研发的复杂度比原生第一次的研发要麻烦很多很多。
/ t+ [' K3 n. l+ C: Q( g既熟则安,既利则惰,Fab能在先进工艺赚钱,就没人愿意二次开发新器件。
3 U( h: l3 {# m) R0 {/ @而且越先进的工艺,原生Cell,就是NAND2越脆弱,越经历不起万针扎身的淬炼。你看AMD的Bottom就还只到6nm,很难前进的。
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2、其实折叠互联这事,天生与工艺精度是反方向的。你再想想那个Gear Ratio,也就是何总那张图,要令上下 Die 之中,标准单元直连相通,便需要Bonding Pitch 逼近 Cell 尺寸,而Cell 愈小、工艺愈进,Pitch 便要愈小。
$ Z( f# _& J! o0 f! y你且算算,2nm的工艺如果要上下NAND2直接连上(也就是细粒度的逻辑折叠),需要Bonding Pitch压缩到多少nm? 能做得到吗? 细折易言,直通难行
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# i5 Q$ e( H+ Q% i8 k9 m: I/ S! D: Y3、工艺微缩之后,需要的金属层数也越来越多,例如Nvidia BlackWell,他的金属层数到22层了(手机多少我不知道),因为晶体管足够密,你必须要足够的金属层才能把它们互联起来。但是,这事又背道而驰了。金属层愈多,堆叠之后垂直路径愈长、愈复杂。还有一个一般人忽视的事情,金属层多了,再磨薄,这个wafer的bow值就会很大(懂得自然懂),对Bonding的精度、难度要求都变高无数。先写这几点吧 :) 需要再补充; _6 f4 r3 @2 d5 d- m
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所以,有些事,做一做,感受不一样。, |; x, {8 x5 J( u4 K
事非经过不知难,成如容易却艰辛。
' d. d4 }7 n- s) w1 x事在人为,道在躬行。
8 ^4 O' h: M; R8 D2 l不妨自信一点 :)4 T6 _+ T4 A) o2 p3 L5 u
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