TA的每日心情 | 擦汗 2026-3-17 22:01 |
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/ y* j* y% l. T2 O& D2 y我看那个路线图做不到三层吧,应该要到28年以后
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1 _4 _; C; ], f1 Y5 @7 U0 |关于夏晶的发言,还有这么一段,我当初看到的时候给记下来了,后来再找发现这哥们应该是给删了,我贴在这里,反正爱坛小众,不太应该会有人追杀到这里
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作者:Dio-晶
) x) U( p& V2 Q& h8 T给韬一点自信$ M9 R q. j1 q5 T0 P( X2 ~
黑子蛮多,评价所谓韬不就是堆叠、3D集成、先进封装什么的,并引用台积电、AMD的材料为参照,是业界通用能力,叠加EUV还能更强 :)
9 d7 E4 N M* L0 ^- V6 k" F& S" F2 p那为啥不做呢? 你想过没有?
. a/ v* O( q* Y( y为何世人知其路,而罕至其深处?
! z% k1 {- i4 t+ M诚然AMD也有MIXXX系列的3D结构,BroadCom也有相应3.5D什么的路标。
$ L9 Y3 ?, v i( i8 [" u s/ L9 n学术界论文更是汗牛充栋,工业届为啥没有再进几步,更深入折叠一下?
9 j' O8 U: |1 `5 q其实这真的是一个岔路口!!!!!
. l; L! C; R0 k6 v& A4 ^讲几个简单的逻辑,原本我是准备在会上回答的,奈何没人问,sign。: O( p2 h, e" \: H+ X( P& x' k% v2 Z
1、TSV,也就是所谓打孔(其实还包括一些其他3D特征的对象和rule),它们其实是一种Device,在加工上和一个FET管子是同等级别的特征的。但是,功能上的管子,例如NAND2,是工艺原生之子,而TSV是工艺后生之客。) p$ W6 n% [$ u- ~, F( ~3 d6 n
啥意思呢? 就是你定义一个2nm的工艺的时候,在第一天是不会考虑TSV这种器件的,因为它只会让你的刀变慢 :) , f$ H! o9 d# E) W7 Z' c
几乎所有的TSV设计,都是在工艺成熟之后再叠加的。也就是工艺研发需要二次入场,这种研发的复杂度比原生第一次的研发要麻烦很多很多。
' x; X+ S5 H: l; d `既熟则安,既利则惰,Fab能在先进工艺赚钱,就没人愿意二次开发新器件。
7 L5 ]/ u1 Z( a, [: M而且越先进的工艺,原生Cell,就是NAND2越脆弱,越经历不起万针扎身的淬炼。你看AMD的Bottom就还只到6nm,很难前进的。
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$ u& @- C9 r& O4 ]8 q0 L& J2、其实折叠互联这事,天生与工艺精度是反方向的。你再想想那个Gear Ratio,也就是何总那张图,要令上下 Die 之中,标准单元直连相通,便需要Bonding Pitch 逼近 Cell 尺寸,而Cell 愈小、工艺愈进,Pitch 便要愈小。
' x6 J# o: L% ~# V. u8 d6 N你且算算,2nm的工艺如果要上下NAND2直接连上(也就是细粒度的逻辑折叠),需要Bonding Pitch压缩到多少nm? 能做得到吗? 细折易言,直通难行
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3、工艺微缩之后,需要的金属层数也越来越多,例如Nvidia BlackWell,他的金属层数到22层了(手机多少我不知道),因为晶体管足够密,你必须要足够的金属层才能把它们互联起来。但是,这事又背道而驰了。金属层愈多,堆叠之后垂直路径愈长、愈复杂。还有一个一般人忽视的事情,金属层多了,再磨薄,这个wafer的bow值就会很大(懂得自然懂),对Bonding的精度、难度要求都变高无数。先写这几点吧 :) 需要再补充# k! R+ d6 }, u2 H* M$ I
1 V" F# B! S6 U( ~' G' K* v9 k所以,有些事,做一做,感受不一样。- y: ~* t2 O: {$ s4 o
事非经过不知难,成如容易却艰辛。
3 I$ B2 I; L4 _- \, h: r事在人为,道在躬行。
9 X- |7 Y, u$ b不妨自信一点 :)
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