TA的每日心情 | 擦汗 2026-3-17 22:01 |
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我看那个路线图做不到三层吧,应该要到28年以后
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关于夏晶的发言,还有这么一段,我当初看到的时候给记下来了,后来再找发现这哥们应该是给删了,我贴在这里,反正爱坛小众,不太应该会有人追杀到这里7 k% q i6 o* v/ P% Y# Y
6 N7 n' ~: B3 V! p0 V4 Q, p3 O作者:Dio-晶( ?- f* h) M1 p! l7 x
给韬一点自信% o7 \7 G7 M) O B( y& r; w! R
黑子蛮多,评价所谓韬不就是堆叠、3D集成、先进封装什么的,并引用台积电、AMD的材料为参照,是业界通用能力,叠加EUV还能更强 :)$ M/ G( j+ V8 z7 f1 s
那为啥不做呢? 你想过没有?
" M8 C Q1 d6 _8 [- @1 ~, e9 Y为何世人知其路,而罕至其深处?
0 H6 S4 |3 {" D& V6 W8 g$ U诚然AMD也有MIXXX系列的3D结构,BroadCom也有相应3.5D什么的路标。- U6 V- W r" j' t3 W- m0 [; d$ t
学术界论文更是汗牛充栋,工业届为啥没有再进几步,更深入折叠一下?
. c: S) o# q" e其实这真的是一个岔路口!!!!!+ q; }! E% U- L3 F- v8 C" k% n( a
讲几个简单的逻辑,原本我是准备在会上回答的,奈何没人问,sign。
' H6 v9 g" G+ P' V: D+ p" t. D) b1、TSV,也就是所谓打孔(其实还包括一些其他3D特征的对象和rule),它们其实是一种Device,在加工上和一个FET管子是同等级别的特征的。但是,功能上的管子,例如NAND2,是工艺原生之子,而TSV是工艺后生之客。
/ q) b `9 G9 P( ?) U- M) Q0 C! ]啥意思呢? 就是你定义一个2nm的工艺的时候,在第一天是不会考虑TSV这种器件的,因为它只会让你的刀变慢 :)
5 n* s5 M9 b k/ {0 z几乎所有的TSV设计,都是在工艺成熟之后再叠加的。也就是工艺研发需要二次入场,这种研发的复杂度比原生第一次的研发要麻烦很多很多。1 M s' p/ g# i+ H; [
既熟则安,既利则惰,Fab能在先进工艺赚钱,就没人愿意二次开发新器件。2 d/ h) V) ]3 ~& F' l" e
而且越先进的工艺,原生Cell,就是NAND2越脆弱,越经历不起万针扎身的淬炼。你看AMD的Bottom就还只到6nm,很难前进的。
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# B, Y. I9 f1 r% K4 {2、其实折叠互联这事,天生与工艺精度是反方向的。你再想想那个Gear Ratio,也就是何总那张图,要令上下 Die 之中,标准单元直连相通,便需要Bonding Pitch 逼近 Cell 尺寸,而Cell 愈小、工艺愈进,Pitch 便要愈小。
( ^5 W! s6 s; i% s1 D* v, B你且算算,2nm的工艺如果要上下NAND2直接连上(也就是细粒度的逻辑折叠),需要Bonding Pitch压缩到多少nm? 能做得到吗? 细折易言,直通难行
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' Q6 e0 p5 x1 G- S- @% L. q3、工艺微缩之后,需要的金属层数也越来越多,例如Nvidia BlackWell,他的金属层数到22层了(手机多少我不知道),因为晶体管足够密,你必须要足够的金属层才能把它们互联起来。但是,这事又背道而驰了。金属层愈多,堆叠之后垂直路径愈长、愈复杂。还有一个一般人忽视的事情,金属层多了,再磨薄,这个wafer的bow值就会很大(懂得自然懂),对Bonding的精度、难度要求都变高无数。先写这几点吧 :) 需要再补充 y% y0 @ o. l/ J- ]7 Z# ]9 r
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所以,有些事,做一做,感受不一样。
/ R n7 Y t, e9 e$ T% s- L. r' e事非经过不知难,成如容易却艰辛。
5 [( Z: Y2 t, n5 L6 U# n0 z8 F) C事在人为,道在躬行。1 L" y; G: F6 ~* b* ~
不妨自信一点 :)2 N5 }# n2 t& _5 z3 i
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