TA的每日心情 | 奋斗 2021-4-20 05:43 |
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发表于 2026-5-31 09:52:26
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+ _: V h9 H6 ?7 L第一种方案。先单独生产两个die,做好铜柱,然后打磨平整,face2face的键合。需要低温键合,不能超过300度,否则容易损坏芯片。同时在背面做TSV把管脚等引出来。
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hw厉害的地方在于把HB/TSV的密度都大大提高了。HB最小间距降低到了1.5um,TSV是6um。这样,两个die之间可以做到5000万级别的互联线。这使得更低层次的逻辑互联成为可能。否则HB互联只有几万几十万的情况下,只能做到logic到sram这种block级别的划分和互联。
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6 D9 ]+ j: ?7 ^9 n* `当然这是有代价的,一个就是5000M互联线的良率问题,hw给的答案是冗余。但是clock/power这种可以做mesh的网络好做,signal连线怎么做冗余,总不能每个都占用两个hb做冗余吧。# S& ~2 W6 w6 |! t0 v
+ U9 e$ G4 T, O' p0 _4 C' ]还有一个问题是散热。hw给的答案是做逻辑拆分和PR的时候就要考虑热,不要把两个发热高的放在一起。但是这又与逻辑折叠相悖,本就是要把相关的逻辑放在一起,这些大概率会同时发热。我看图片可能大部分还是logic和sram堆叠,控制发热。另外一个是提高封装散热。没有说细节,我怀疑做那么多TSV可能主要是为了散热,利用TSV的铜柱把热量从背面散出去。因为管脚不需要这么多TSV。
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